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| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區間 | 1萬-2萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,石油,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
德國EPK MINITEST730涂層測厚儀
-創新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的J確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
SIDSP技術-全Q球技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢
為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。
SIDSP-測量信號高穩定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP探頭的優Y秀性能。
高J確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產過程中，EPK的SIDSP探頭要經過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內都十分J準，將測量錯誤降至Z低。
SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產過程中，對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償的編碼，這對于模擬探頭是根本不可能實現的。這樣溫度改變就不會影響測量，與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發生！
SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉換到特定設置。想進行高精J度測量嗎？沒問題，只要選擇高精J度模式，儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數值還是連續測量，SIDSP都能完成您的選擇！
SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準儀器。
SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續改進SIDSP技術以滿足客戶的需求。您可以從EPK的進行免費的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是版本。
MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700產品線，加強了EPK在全Q球涂層測厚市場的領L導地位.
有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高精J確度和高重現性帶給您的優勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產品優質的外觀是您長期價值和成功的關鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業。
增加了測量速度設置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數值；也可以只測量少數幾個數值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學設計，外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內置探頭的720。730則是外置探頭的。所S有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內容可以180度旋轉，方便您讀取數據。
預設選項節省您的時間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節省您的時間和金錢，儀器預設了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應全Q球銷售需要，MINITEST 700滿足各種標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700優點一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精J確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高精J確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件
德國EPK MINITEST730涂層測厚儀 選擇不同探頭價格不同
標準配置：
帶塑料手提箱，內含：
-MINITEST 720(內置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節AA電池
推薦配件:
-F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
技術數據表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
| 信號處理 | 探頭內部32位信號處理（SIDSP） | |||||
| 精J確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
| 重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| Z小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| Z小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| Z小曲率半徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| Z小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| Z小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
| 單值模式下Z大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
主機
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
| 數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
| 存儲數據量 | Z多10,000個 | Z多10,000個 | Z多100,000個 |
| 統計值 | 讀值個數，Z小值，Z大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置） | ||
| 校準程序符合標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | ||
| 校準模式 | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
| 極限值監控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
| 測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
| 數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
| 電源 | 2節AA電池 | ||
| 標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |